ITC57300動態測試儀替代品天光測控IGBT動態參數測試
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西安天光測控技術有限公司

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商品參數
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商品介紹
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聯系方式
品牌 天光測控
型號 ST-DP_X(1500V600A)
測量范圍 1500V/600A
測量精度 VGE±1% ±0.2V
短路電流 2500A
測試范圍 IGBTs,MOSFETs, Diode
測試能力 Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg
商品介紹
ITC57300動態測試儀替代品天光測控IGBT動態參數測試



系統概述

IGBT是廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件,其開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性,直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的開關性能具有極其重要的實際意義。

西安天光測控技術有限公司IGBT動態參數測試儀,該系統是針對IGBT器件的開關性特性及IGBT內部續流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統,適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。

基礎規格

規    格:1800×800×800(mm)

質    量:155Kg

環境溫度:15~40℃

相對濕度:小于80%

大氣壓力:86Kpa~ 106Kpa

電網電壓:AC220V±10%無嚴重諧波

電網頻率:50Hz±1Hz


參數/條件

 

IGBT開通特性測試

IGBT關斷特性測試

測試氣動夾具

測試參數

開通延遲 tdon

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

關斷時間tdoff

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

壓力:

5000PA的品牌空壓機供氣。

控溫范圍:

25℃-200℃

控溫精度:

±1.0℃±1%

器件接觸:

20個探針的接觸矩陣


上升時間

tr

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

下降時間tf

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

開通能量

Eon

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

關斷能量Eoff

10-1000ns±5%±10ns

Tj=25℃和125℃

測試條件

集電極電壓Vce

50-3500V±5%

根據用戶要求定制

集電極電壓Vce

50-3500V±5%

根據用戶要求定制

集電極電流Ice

50-1500V±5%

根據用戶要求定制

集電極電流Ice

50-1500V±5%

根據用戶要求定制

負載L

20-1000uH

L負載

20-1000uH

柵極電壓Vge

±15V±3%±0.2V



短路測試Sct

一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA

二極管反向恢復測試Drr

反向恢復電流 / 反向時間 / 反向di / dt

聯系方式
公司名稱 西安天光測控技術有限公司
聯系賣家 張先生
手機 䝒䝕䝑䝔䝓䝘䝖䝐䝒䝖䝗
地址 陜西省西安市
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