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一、 logo

二、 公司形象墻

三、項目及關鍵詞

1、同步輻射吸收譜（XAS）

關鍵詞：同步輻射測試，XAS，XANES，EXAFS、XANES、SAXS、XAFS、XMCD、XMCD、LIGA、ARPES、成像、真空紫外光電離質譜；生物大分子結構分析，Athena，XAFS  GIWAXS

項目簡介：

X射線吸收精細結構（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射線吸收譜（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源的，研究材料局域原子、電子結構的一種有力的工具。XAFS廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域，主要是基于以下優點：

1、不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；

2、不受其它元素的干擾，可對同一材料中不同的元素分別研究；

3、不受樣品狀態的影響，可以測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；

4、對樣品無破壞，可以進行原位測試；

5、能獲得高精度的配位原子的種類、配位數以及原子間距等結構參數，一般認為原子間距的精確度可達0.01 ?；

6、檢測下限低，最低可達幾個ppm。

XAFS數據解析方面，可提供以下數據及服務： 

1、XANES部分圖譜，提供價態、初步結構的定性分析；

2、EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；

3、wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據，并用小波炫圖提高數據分析“逼格”；

4、文章實驗部分及數據討論部分的修改，檢查對結果的描述是否準確，是否有偏差；

5、幫忙回復審稿意見中關于XAFS的問題，提供中文回答。

2、球差透射（AC-TEM）

關鍵詞：物鏡球差透射電子顯微鏡（AC-TEM），物鏡球差透射電鏡（AC-TEM），HRTEM，Mapping，線掃EDS，納米束，會聚束

項目簡介：

雙球差校正透射電子顯微鏡，能夠在TEM模式和STEM模式下提高分辨率，分辨率小于60 pm。 

配有四個高效能譜探頭，能夠實現原子級別的化學成分分析； 

利用單色器和電子能量損失譜，對材料的局部區域的光學性質、電子結構以及原子環境等信息進行極高分辨率的表征。 

該透射電鏡同時也能在透射、掃描透射和能譜模式下對材料進行三維重構。 

此外也配有洛倫茲模式、差分相位襯度和電子全息。

3、聚焦離子束（FIB）

關鍵詞：FIB，聚焦離子束，鎵離子束，FIBTEM，FIB-TEM，FIB/SEM聚焦離子/電子雙束顯微電鏡，FIB-SEM，FIBSEM，微納加工，Ga離子束

項目簡介：

TEM透射樣品制備：對于表面薄膜、涂層、粉末大顆粒，原位TEM芯片加工，晶界界面以及相界面等精準定位與加工TEM制樣；

SEM/EDS剖面分析：可進行二次電子形貌分析且圖像分辨率高、背散射電子襯度分析、EDS能譜分析；

EBSD電子背散射衍射分析：可進行晶體取向成像、顯微織構、界面等分析，分析速度快，標定準確度高；

微納結構加工：在微納結構操作機械手、Omniprobe操作探針、離子束切割等的配合下，可以進行各種微納結構的搬運、各種顯微結構形狀或圖案的加工；

力學及電學性能測試：通過相應的附件，可以實現微納結構的力學和電學性能測試；

三維重構分析：AutoSlice and View 自動連續磨削和觀察，采集系列切片圖像，獲得三維重構圖像

4、X射線光電子能譜（XPS）

關鍵詞：X射線光電子能譜 AR-XPS XshexianguangdianziXshexianguandianzinengpu jiaofenbian 角分辨 ISS REELS  離子散射譜 反射電子能量損失譜 mapping AES UPS 俄歇電子能譜 紫外光電子能譜 exiedianzinengpu ziwaiguangdianzinengpu

項目簡介：

XPS全譜加分譜，全譜加分譜（Mg靶），深度剖析，價帶譜，AR-XPS，Ar離子刻蝕清洗，Mapping成像，數據分析

5、二次離子質譜儀（D-SIMS

關鍵詞：靜態二次離子質譜 jingtaiercilizizhipu fenxingshijianercilizizhipu 飛行時間二次離子質譜 TOF-SIMS SIMS

項目簡介：

元素深度分布，元素平均濃度，二維成像，線掃描

6、液體透射電鏡（TEM）

關鍵詞：高分辨透射電鏡，TEM，HRTEM，STEM，電子顯微鏡，面掃Mapping，線掃eds，選區衍射，晶帶軸，SAED

項目簡介：

1. 主要用于無機材料（粉體）微結構與微區組成的分析和研究，不適用于有機和生物材料；

2. 表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等；

3. 成像：衍襯像、高分辨像 (HRTEM)、掃描透射像；

3. 微區成分： EDS 能譜的點、線和面分析，電子選區衍射。