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測量挑戰:

測量挑戰 是德科技網絡分析儀可以表征和測試有源組件，例如放大器、混頻器和頻率轉換器。它 們可輕松進行放大器的常規參數測量，例如增益、增益和相位壓縮、隔離度、回波損耗 和群時延。諧波失真常用于了解放大器的非線性特性，接收機有時需要工作在與激勵源 不同的頻率上。由于頻率轉換器件（例如混頻器和頻率轉換器）的輸入頻率和輸出頻率 不同，因此，精確地對頻率變換器件進行測量具有很大的挑戰性。用于測量這些器件的 網絡分析儀必須具有頻偏模式（FOM），才能勝任測量這種輸入頻率和輸出頻率不相同 的器件的任務。有時，可能還需要使用其他儀器和信號調節器件來進行雙音測量、大功 率器件測量、噪聲系數測量、ACP 和 EVM 等其他類型的測量。因此，測量系統變得越 來越復雜；或者在完成一個放大器的測量時，將會需要多個不同的測量工位。 是德科技解決方案 對于有源元器件的矢量網絡分析，是德科技提供了廣泛、靈活和價格經濟的測試解決方 案。Keysight VNA 專為線性和非線性表征而設計，具有極高的精度。除了高性能優勢以 外，還有多款測量應用軟件可以幫助簡化設置、縮短測試時間，提高測量精度。

主要特性: 

 – 放大器增益、匹配和隔離：S 參數測量 – AM-AM 和 AM-PM 轉化：功率掃描， 信號源和接收機校準 – 大功率/脈沖可配置性：可配置的測試 座、大輸出功率、信號源和接收機衰 減器、內置脈沖發生器、外部脈沖發 生器控制、內置脈沖調制器 – 頻率轉換器轉換增益/損耗：FOM、 信號源和接收機校準、標量混頻器 校準 – 頻率轉換器轉換相位/群時延：FOM、 幅度和相位校準、矢量混頻器校準 – LO 驅動/測量：第二個內部信號源、 外部射頻源控制、三端口校準和測 量、LO 功率校準 – 混頻器拓撲：掃描射頻、掃描/固定 LO （固定 IF/掃描 IF）、雙級變頻器、配 有內置 LO 的變頻器 – 精確的信號源輸出功率和絕對功率測 量：信號源和接收機校準、功率傳感 器失配校正、接收機電平調節 – 諧波失真：FOM、信號源和接收機校 準、較低的信號源諧波、接收機衰減器 – 互調失真（IMD）：FOM、第二個內部 信號源、外部信號源控制、內置信號 合成網絡、掃描 IMD – 噪聲系數測量 – Hot-S22 測量：FOM、第二個內置信 號源、內置信號合成網絡 – 功率附加效率：直流輸入和/或直流電 表控制 – 直流偏置：內部直流偏置源/直流源控 制/內置直流偏置電路 – 有源熱參數消除了系統與系統之間的 相關性問題 – 非線性矢量網絡分析（NVNA）：波形 分析、X 參數