進口/國產膜厚儀測厚儀-測金屬鍍層膜厚
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商品參數
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商品介紹
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品牌 歐若斯公司
測試模式: 儀器默認為連續(CONT INUE)測量模式
測量范圍: 0-1250/3000μm
使用環境: 溫度:0℃-50℃
分辨率: 0.1μm /1μm(100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm)
測量精度: ±(1%-3%) 1.5μm
電源: 220V 50HZ
測量時間: 30s-300s
商品介紹

膜厚儀能夠測量極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區別材料并測量氮化鈦鍍層。CMI900系列分析儀能夠即時分析黃金和其它貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業廠家,也可以從我們測量鍍層厚度和成份的X技術中獲益。這是一種基于windows的綜合性基本參數軟件程式。

  

l         包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體

l         5層/15種元素/普通元素效正

l         同時為多達15種元素進行成份分析

l         貴重金屬分析和金純度檢查

l         材料與合金元素分析

l         材料鑒定與區別

l         吸收測量方式

l         液體分析:分析液體中的金屬,如電鍍液

l         系統自動調整和效正:效正X線導管、探測器和電子設備的變化

l         光譜計數速率峰值位移效正

l         重疊熒光峰值數字峰值反卷

l         定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達四個光譜

l         統計數字和報告產生器LE(輕型)


儀器特點:

l         下視X線。X線射束90度采樣

l         風冷微聚焦X導管,提供鎢、鉬和其它陽極。

電力:X大瓦特,4-50kv可編程,0-1.5mA

l         準直管:多個(X多6個),可編程,圓形,矩形(我們將幫助您選擇適合于您應用的準直管)

l         主要過濾器:提供各種厚度及材料


X線探測器和信號處理

l         X線探測器:密封氙氣正比計數器;提供其它填充氣體

l         探測器過濾器:X多3個,5個位置,可編程-馬達驅動;提供釩、鐵、錫、和其他元素

l         高速探測器信號處理電子設備,具有峰值位移校正功能


樣品處理

l         樣品室:密封(950系列)或開縫(900系列)

l         在X、Y、Z軸上可編程馬達驅動控制

l         高清晰度、實時、彩色樣品示圖,15〞(38.10cm)(標準)或17〞(43.18cm)(選項)

l         彩色樣品圖像捕獲和打印

l         激光樣品聚焦

l         電腦產生十字線,準直管尺寸指示器,用于樣品準定位

l         可變聚焦距離控制,以適應變化的樣品外型

l         樣品變大:選擇30、50、或100放大。提供固點聚焦距離或可變聚焦距離選項


測量

l         鼠標器啟動“點擊”測量

l         自動測量重復功能

l         安全:多用戶多X密碼保護


聯系方式
公司名稱 東莞市歐若斯儀器有限公司
聯系賣家 周經理
電話 재잳잴잱-잭잰잰재잳잵잰재
手機 잵잰잱잭잯잳잰잴잯잱잱
傳真 재잳잴잱-잭잰잰재잳잵잰재
地址 廣東省東莞市
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