交叉線光源 斜照線光源 兩側(cè)斜光 豎劃傷檢測 運動方向劃傷檢測 J-LIGHT聚光
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交叉線光源-斜照線光源-兩側(cè)斜光-豎劃傷檢測

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品牌 J-LIGHT聚光
用途 機器視覺線陣檢測
適用產(chǎn)品 標(biāo)簽、薄膜、玻璃
工作距離 10—100mm
發(fā)光面尺寸 100—1500mm
顏色 W/R/G/B
非標(biāo)定制 支持
產(chǎn)地 中國
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公司名稱 東莞市聚光自動化科技有限公司
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