美程能量色散X熒光光譜儀EDX4500H
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EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析,在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管,指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
數(shù)字多道技術(shù),讓測(cè)試更快,計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS,精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素,對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):EDX 4500H
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間:30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵