德國KK特別適合于粗晶粒材料檢測測頭WRY70-WSY45-4-+KSY
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德國KK特別適合于粗晶粒材料檢測測頭WRY70 WSY45-4 +KSY
美國GE收購了德國KK的產品。
用于結構復雜,空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭,頻率4MHZ,5MHZ,6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm,入射角可選,Microdot接頭。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭,(外徑2.5mm,高度3mm),Microdot接頭或固定細探頭線??商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。
③ WSY型
90o爬波探頭,Lemo00接頭,用來檢測難以接近的位置。
注釋:
爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面傳播。所以有些用其他超聲波無法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產生爬波。
不用耦合劑(干耦合)檢測
如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑,某些情況下可以使用塑料來代替。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面探頭和檢測工件耦合。滾筒探頭,
B1KS,B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續檢測。在這種情
況下,探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的,因為工件表面的臟物會
使探頭不能與工件耦合。這種技術尤其適合于塑料檢測。詳情請參見SD261。
用于粗晶材料的檢測(鑄件和奧氏體材料)
很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應用,現在已成為標準探頭。
包括:
① K…S,K…SM
各頻率高分辨率直探頭,晶片尺寸34或28mm,Lemo1接頭,通過螺紋固定保護膜,延遲線和斜楔。
② WRY…,WSY…
45o,60o,70o縱波斜探頭,高分辨率,頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ,Lemo00接頭。
③ VRY…,VSY…
45o,60o,70o,2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ,Lemo00接頭。如果您需要與上述標準探頭頻率、入射角、接頭型號不同的探頭,請聯系我們,我們將給您提供探頭,使其能滿足您的應用需求。
德國KK特別適合于粗晶粒材料檢測測頭WRY70 WSY45-4 +KSY
+KSY45 K1SM *) | 34 34 28 | 0.5 1 1 | 45 45 45 | 50-200 30-800 25-500 |
| |
C *) + K2SC *) | 24 24 | 1 2 | 45 45 | 20-700 12-1400 |
| |
WRY60 WRY70 | 24 | 1.5 1.5 1.5 | 45 60 70 | 10-140 10-120 25-80 |
| |
WSY45-2 WSY60-2 WSY45-4 WSY60-4 | 10 | 2 2 2 4 4 4 | 45 60 70 45 60 70 | 8-200 8-150 8-100 4-800 6-500 6-350 |