功能材料電學綜合測試系統

鐵電參數測試功能

Dynamic Hysteresis 動態電滯回線測試頻率

Static Hysterestic 靜態電滯回線測試；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試；

Retention保持力；

Imprint印跡；

Leakage current漏電流測試；

Thermo Measurement 變溫測試功能。

壓電參數測試功能

可進行壓電陶瓷的準靜態d33等參數測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態法測量壓電系數測量。

釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。

熱激發極化電流測試儀 TSDC

  用于研究材功材料性能的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。

絕緣電阻測試功能

高精準度的電壓輸出與電流測量，保障測試的品質，適用于功能材料在高溫環境材料的數據的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導體、半導體材料與其它新材料在高溫環境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

塞貝克系數/電阻測量系統

適用于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃，高阻選件高至10MΩ。

電卡效應測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內的電卡性能。

溫度范圍：-50℃到200℃、熱流時間范圍：1s-1000s，zui大電壓可達10kV，

波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。

用戶可選擇不同的配置

設備優勢

本套系統可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試，以及高、低溫環境下的電學測試。與國際電學檢測儀器在通訊協議、數據庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來易于擴展。更加節省改造時間與硬件成本。

性能優勢

    華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術成果，安全保護：增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術，更加安全與可靠。軟件設計：借鑒品牌，在測試功能、數據處理、操作等人性化等方面做了大量的改進；測量精度：與品牌儀器做了大量的測試對標，與國內航天計量院通力合作；進行檢測計量。保證數據的有效與真實。

定制化服務

電學試驗室擁有泰克、是德科技品牌大批檢測設備；生產制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工中心、精磨床等一大批生產、加工設備，ISO9001質量體系認證，在工裝、夾具定制化方面方便、高效。

測試功能

HCTD3000鐵電測試系統具有寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，性價比非常高，滿足了用戶追求高性價的需求。主機內置電壓檔位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可選。在±10V的內置電壓下，電滯回線測試頻率達到2MHz；在±500V的內置電壓下，電滯回線測試頻率達到±2kHz。此系統還可外部擴展電壓到4kV和10kV，也可加載選件實現壓電、熱釋電和磁電測試功能。此系統包含Vision基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kV和10kV，Premier II在不改變樣品連接的情況下可執行電滯回線，脈沖，漏電流，IV和CV測試，也可加載選件實現壓電、熱釋電、磁電測試和晶體管特性測試功能。

標準配置

Dynamic Hysteresis 動態電滯回線測試頻率；

PUND 脈沖測試：脈沖寬度2μs，zui小上升時間1 μs；Fatigue 疲勞測試,頻率300kHz；

Retention 保持力測試；

Static Hysterestic 靜態電滯回線測試；

Imprint 印跡；

Leakage current 漏電流測試：100fA to 1A

更多測試功能

高溫部分通過近紅外爐實現可實現RT~1500°c環境下測試低溫部分通過冷熱臺實現可實現-180~450°c環境下測試高、低溫介電溫譜測試頻率I 測試范圍20HZ-30MHZ。

擴展測試裝置