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TT2-AFM

AFMworkshop原子力顯微鏡的主要優勢：

1、AFMworkshop是美國三家原子力顯微鏡廠家中特別注重性價比的一家，提供高性能科研級產品的同時，價格低于另外兩家： Oxford（原Asylum） ，Bruker（原Veeco）

2、產品設計更開放，更簡潔，軟件基于Labview，全自動下針，極易上手

3、提供多種機型選擇，有樣品掃描，有針式掃描，提供大樣品臺。

其中TT2-AFM樣機實驗室已經安裝調試完畢， 測樣免費，

TT2-AFM可以輕松完成高質量的成像諸如DNA，納米顆粒和納米管

TT2-AFM是一個緊湊的桌面式AFM，他可以在較低的價格下獲得科研級的高分辨率圖像

TT-AFM用來測試和分析硅原子臺階

TT-AFM的垂直分辨率（z軸方向）可以輕松證明硅測試樣品是一個取向差表為1°的Si平面。

測試樣品包括兩種臺階類型;其中50nm的臺階可以使用TT -AFM視頻顯微鏡直接觀測(如圖) ，

而該樣品還包括單個原子的臺階高度為0.314納米。

懸臂和Si原子臺階的光學顯微鏡圖像。在光學顯微鏡圖像中的線是在樣品表面上的50納米的臺階。使用AFM繼續觀察可以發現在大原子臺階上的單個原子。 

這4×4um硅圖像顯示的1.8納米的Z軸范圍。每個灰色鱗片代表的0.314納米單個原子臺階。

藍色方塊示用來測試樣品的表面粗糙度。。

紅色圓圈表示一缺陷。對于圈定的缺陷信息如下所示。

該直方圖分析顯示每個樣品上的臺階的高度。測試獲得臺階高度為0.303 nm。

我們計算了標有藍框的區域的表面粗糙度。對于此示例的表面粗糙度（Ra ）的預期值是0.06納米。

由紅圈圖像中指定的缺陷的輪廓線是高度0.471納米。

開放性設計

開放式的設計是AFMworkshop提供的所有產品的核心。可以非常容易的設計新型實驗，并通過使用LabVIEW軟件來實現。在文檔包里包含所有可用的TT- AFM機械圖紙。

，AFMWorkshop的客戶論壇使得公司分享了TT- AFM直接與所有的客戶開發的專門設計。對于特殊的應用，其他類型的掃描器如平板和管狀掃描器可以很容易地加入到顯微鏡平臺上。

EBOX（控制器）

TT-AFM的電路基于著行業標準的USB數據采集電子部件構成。重要功能，諸如XY掃描，由一個24位數字模轉換器構成。結合了高保真的模擬Z軸反饋電路可以獲得精度的掃描。輕敲模式使用高靈敏度的相位電路來檢測相位和振幅反饋變化。

1.24 位數模轉換器

通過一個32位微處理器驅動的24位數模轉換器產生的掃描波形驅動XY軸的壓電陶瓷掃描器精密移動。24位的掃描可以獲得分辨率的AFM圖像。反饋控制使用XY閉環傳感器的追蹤探針在樣品表面的位置。

2.相位振幅探測電路

在Ebox中我們使用超穩定的相位振幅探測電路來測試相位和振幅。系統可以在輕敲模式下高速的反饋測試相位和振幅的變化。

3.信號進出

在Ebox的背面有一個50針的帶狀線纜可以獲得Ebox內部的所有電子信號，而無需打開Ebox。

4.狀態燈

Ebox前部有七個故障診斷燈，在Ebox發生故障時用來確定電路模塊。

5.的模擬回路系統

Z軸壓電陶瓷使用高敏感度的光學杠桿傳感器來的反饋控制，探針和樣品使用專用的樣品探針夾持器來位置的垂直以準確的獲得位置信號。

6.可變增益的高壓壓電陶瓷驅動器

通過一個可以變增益的高壓壓電陶瓷驅動器，通過調高信噪比來獲得小范圍掃描時候超高的分辨率。

如何為你的納米研究選擇合適的AFM

原子力顯微鏡是納米結構的觀測和測量中必不可少的工具。 AFMWorkshop的科研級原子力顯微鏡提供了一個實惠的價格。為納米科技研究者提供了性能和價格間的均衡。我們的儀器是穩定可靠，并且可以在單用戶以及多用戶實驗室中使用。 AFMWorkshop的顯微鏡提供給你基礎客戶和高階AFM用戶同時提供了一個強大的和直觀的用戶界面。

我們的原子力顯微鏡：

§  對軟硬物質的納米結構都能給出的成像

§  具有開放性的結構可以方便改進成一個創新型的儀器

§  可以為客戶提供出版級的圖片

§  包含各種常規功能

出版物

縱觀世界各國，AFMWorkshop的AFM每天都在生命和物理科學納米技術研究的各個項目中使用著。雖然AFMWorkshop產品在2010年底才被推向市場，我們的客戶使用AFMWorkshop的AFM發表了越來越多的論文。 （通常需要數年，一個全新客戶才能發表相關論文）要查看出版物引用AFMWorkshop產品列表請見論文列表

掃描樣品

所有樣品AFMworkshop的原子力顯微鏡獲得圖片。下面的樣品包括納米結構，圖形化結構表面，材料和生命科學樣品.  更多樣品結構可以看我們的圖庫。

納米結構

左圖是500 nm X 500 nm輕敲模式成像  1 nm和 3 nm 納米顆粒使用 50 x 50 x 15 μm 掃描器. 右圖是  20μm x 20μm自組裝磷脂納米管

結構化表面

左圖是a 40 X 40 μm接觸模式成像MEMS齒輪. 右圖50 x 50 μm CMP拋光后的結構化晶圓

材料

左圖是 2 x 2 μm BOPP 纖維在大氣環境下.  右圖是 10 x 10 μm 范圍下0.3 nm 硅納米臺階.  在底部的硅圖像是一個50納米的大臺階，但是我們仍然可以清晰可見0.3nm的單原子臺階

生命科學

上面兩圖顯示了TT-AFM在生命科學成像上的強大能力。左圖是6 x 4 μm大腸桿菌的相位圖.  右圖是 3 x 3 μm 的沉積在云母片表面的 DNA 輕敲模式圖片

AFMWorkshop AFM 系列優點

高分辨率    Z 軸噪音0.08 nm, TT-AFM能夠高分辨率掃描DNA,納米顆粒和納米管等樣品。為了確保性能,我們的技術人員可以提供售前評估提出了AFM安裝位置

高擴展性   我們的產品可以在你購買后提供更多升級組件。我們的機器基于同一控制器下提供多種平臺機器（如TT-AFM，NP—AFM，LS-AFM）

工作模式  我們的機器提供標準的模式如輕敲模式，接觸模式，相位和橫向力顯微鏡。同時可以增加導電原子力顯微鏡，納米刻蝕，磁力顯微鏡，高階力曲線，靜電力顯微鏡，掃描熱顯微鏡等功能。