德國FESTO費斯托緊湊型氣缸ADN-40-20-A-P-A優勢供應
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德國FESTO費斯托緊湊型氣缸 ADN-40-20-A-P-A
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半導體生產流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環節的相關知識經常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據,測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。
但不能以電壓波動來代替閃變,因為閃變是人對照明波動的主觀視感。電弧爐、軋鋼機等大功率用電器在運行過程中會引起電網的電壓波動。電機在啟動時會產生沖擊電流,出現沖擊電流時,公用配電網的阻抗會使分壓增加,從而導致電壓下降,電壓下降會導致白熾燈的亮度下降。即使是很小的電壓變動,亮度變化也會很大,因為亮度和電壓的平方成正相關。如所示。,電壓降低10%,亮度會降低34%。下面和大家分享一個實際的案例。背景:某咖啡廳內,客人抱怨燈光閃爍。
挑戰某山西火電廠提出,根據GB13223-211《火電廠大氣污染物排放標準》中指出,所有大氣污染物濃度均為標準狀態下干煙氣的數值即溫度為273K,壓力為11325Pa時的濃度,并以mg/m3作為單位,新建燃煤燃油鍋爐SO2以及氮氧化物NOX的排放限制一般都在1mg/m3。但是客戶提出,德圖煙氣分析儀testo35使用的單位都是ppm,即為體積比濃度,那如何和國標進行配合。解決方案德圖煙氣分析儀testo34/35進入國內市場十余載,根據國內的客戶需求一直在做不同的改進,根據上述提出的問題,德圖在進入國內市場的時候就已經將這個問題考慮在內,德圖煙氣分析儀不僅有ppm體積比濃度,也有mg/m3質量比濃度,但是在標準中要求,因鍋爐運行時,效率不同,可以根據氧含量來權衡鍋爐情況,所以需要將實際氧含量運行情況下的污染物濃度換算到基準氧含量情況下的污染物濃度。