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固體材料表面分析二次離子質(zhì)譜對(duì)生物樣品的微區(qū)成像技術(shù)分享

       二次離子質(zhì)譜是固體材料表面分析的一項(xiàng)重要技術(shù)。SIMS對(duì)元素的檢測(cè)限非常高，可達(dá)到ppm甚至ppb級(jí)。該儀器能分析含H—U的各種元素和同位素，能分析官能團(tuán)、分子結(jié)構(gòu)等信息，在半導(dǎo)體、材料、礦物、化工、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。

       SIMS的原理是將具有一定能量（通常為幾百至幾萬eV）的初級(jí)離子束轟擊到固體表面，樣品表面的一些粒子被濺射出去，其中一些帶電離子被質(zhì)譜檢測(cè)分析后得到樣品化學(xué)成分信息。SIMS按掃描方式可分為靜態(tài)SIMS(SSIMS)和動(dòng)態(tài)SIMS(DSIMS)兩種。

      SSIMS要求真空度小于10-7Pa、電子束能量小于5keV，與此同時(shí)，在低密度束的情況下轟擊材料微區(qū)，從而保證只有若干層原子原子被激發(fā)。這種掃描方式對(duì)樣品破壞性小，通常可以用來分析有機(jī)物結(jié)構(gòu)或表面微區(qū)二維成像。DSIMS使用高能量、高密度離子束層層剝離材料，分析濺射粒子，檢測(cè)不同深度下的二次離子信息，動(dòng)態(tài)分析三維空間中材料元素的分布。

      如今TOF質(zhì)譜檢測(cè)器在SIMS技術(shù)用的最多，TOF-SIMS的分辨率可以達(dá)到104，深度分辨率達(dá)到1nm，微區(qū)分辨率達(dá)到100nm2，二次離子濃度靈敏度達(dá)到ppm級(jí)別。隨著儀器性能的發(fā)展，TOF-SIMS的應(yīng)用范圍也慢慢擴(kuò)大。TOF-SIMS在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展也日益迅速，這是其它質(zhì)譜(ESI-MS、MALDI-MS)或表面分析技術(shù)(EDS、XPS)所沒有的特殊性質(zhì)。TOF-SIMS的超高分辨率和化學(xué)成像在研究生物組織結(jié)構(gòu)、細(xì)胞界面、分子行為等方面發(fā)揮著重要的作用。杭州微源檢測(cè)提供先進(jìn)的TOF-SIMS儀器檢測(cè)服務(wù)，可為客戶提供完善的SIMS技術(shù)解決方案。

       因?yàn)镾IMS需要在超高真空下作業(yè)，所以對(duì)樣品的要求就是真空下穩(wěn)定。生物樣品通常需要進(jìn)行固定，來盡可能保持樣品形狀結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)不變。因此生物樣品需要進(jìn)行特殊制樣，例如組織樣品，通常使用冷凍切片的方式進(jìn)行制樣。以下案例是小鼠大腦組織切片樣品的SSIMS二次離子質(zhì)譜圖和微區(qū)二維成像，圖像顯示了脂質(zhì)分子在組織中的分布情況。

公司介紹：

       微源檢測(cè)，是集研發(fā)分析測(cè)試服務(wù)、藥質(zhì)量研究、基因毒雜質(zhì)研究、元素雜質(zhì)研究、結(jié)構(gòu)確認(rèn)、生物藥分析服務(wù)等一體，面向全球的獨(dú)立第三方生物醫(yī)藥研發(fā)測(cè)試服務(wù)公司。

由國(guó)內(nèi)領(lǐng)xian的科學(xué)服務(wù)企業(yè)上海泰坦科技股份有限公司（簡(jiǎn)稱：泰坦科技）參股成立，秉承“讓檢測(cè)精zhun又高xiao”的價(jià)值觀：

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