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X射線吸收精細結構（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射線吸收譜（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源、研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域，主要有以下優點：
1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；
2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；
3.不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；
4.對樣品無破壞，可進行原位測試；
5.能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數，一般認為原子間距精確度可達0.01?。
XAFS數據解析可提供以下數據及服務：
1.XANES部分圖譜，提供價態、初步結構的定性分析；
2.EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；
3.wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據，同時用小波炫圖提高數據分析“逼格”；
4.幫答復審稿意見中關于XAFS的問題，提供中文回答，但不包括論文寫作；
制樣要求
尊敬的用戶： 同步輻射項目需在費用到賬后安排測試；預存用戶可優先安排，由此給您帶來的不便，我們深表歉意。具體可聯系工作人員確認
1.粉末樣品至少80-100mg（0.8-1.0ml體積量最好），越細越好，最好能過200目篩子，400目更好，一般研磨20min左右；
2.粉末壓片尺寸要求：直徑大于6mm的圓形，厚度1mm左右；
3.塊體樣品要求測試面光滑，大小不超過5*5*5mm；
4.提前用ICP測得樣品真實元素含量，若樣品信息真實但圖譜質量不佳可免費重測；
5.原則上測試樣品不回收，線站回收樣品安排兩到三個月一次，若樣品有剩余可安排回收；
6.同步輻射XAFS測試擬合需求表下載鏈接：http://cloud.ceshigo.com/s/lo9cepyq。
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