熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熱阻Kcurve/Rth/Zth
熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熱阻Kcurve/Rth/Zth
熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熱阻Kcurve/Rth/Zth
熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熱阻Kcurve/Rth/Zth

熱阻測試儀-陜西天士立ST-HeatX-平替進(jìn)口-熱阻抗-熱特性-瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熱阻Kcurve/Rth/Zth

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¥985000.00

≥1

聯(lián)系人 王偉

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發(fā)貨地 陜西省西安市
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商品參數(shù)
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商品介紹
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品牌 天士立
重量 5.6kg
用途 半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試
尺寸 35*23.4*18.9
電源 220v
種類 熱分析儀
分辨率 0.01A
溫度范圍 -35℃~180℃
溫度誤差 ≤0.1℃
輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set
最高采樣頻率 1MHZ
商品介紹

熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn),可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù),用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組的_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)熱阻_穩(wěn)態(tài)熱阻_Kcurve_Rth_Zth_熱結(jié)構(gòu)分析

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)的產(chǎn)品特點(diǎn)

超高精度:溫度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz變頻采樣:

技術(shù)領(lǐng)先:第三代瞬態(tài)熱測試技術(shù),可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析

行業(yè)領(lǐng)先:具備4路高速高精度采集模塊,采樣速度,精度均達(dá)到行業(yè)頂尖水平

架構(gòu)領(lǐng)先:采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)、可遠(yuǎn)程對設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制,實(shí)現(xiàn)智能化;

瞬態(tài)監(jiān)測:連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化,同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);

NPS技術(shù):同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù),形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)的應(yīng)用場景

器件結(jié)殼熱阻測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

Die-Attach熱阻測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

DBC/AMB基本熱特性測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

界面熱阻測量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

PCB板級散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

散熱器性能測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

TIM材料熱導(dǎo)率測試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

熱缺陷檢測ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)  

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)的“功能指標(biāo)”

 

產(chǎn)品品牌

天士立

 

產(chǎn)品型號

ST-HeatX

 

產(chǎn)品名稱

半導(dǎo)體熱特性測試系統(tǒng)

 

主要功能

適用于多種類型功率器件及其模組的瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出

 

試驗(yàn)對象

DIODEMOSFETIGBT/IGCTHEMTGTOIC

 

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

符合JESD51-1JESD51-14IEC 60747-8IEC 60747-9IEC 60747-15IEC 60749-23IEC 60749-34AEC-Q101AQG 324等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

 

試驗(yàn)?zāi)J?/span>

DIODE模式

SAT模式

IGBT模式

RDSON模式

HEMT模式

 

門控電源

數(shù)量 4

輸出方式 隔離輸出

輸出范圍 -10V ~ 20V

輸出誤差 0.1V + 0.5%set

分辨率 0.01V

 

NTC/PTC

數(shù)據(jù)同步

采集

NTC測量范圍 250kΩ ? 100Ω

PTC測量范圍 100Ω ? 250kΩ

最高采樣頻率 1MHZ

同步時(shí)間誤差 1μs

 

柵極漏電

測量

量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA

 

加熱電源

量程 30A / 10V

電流輸出誤差 0.05A + 0.1%set

電流設(shè)定分辨率 0.01A

開關(guān)速度1μs

 

測溫電流源

(主)

量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V

分辨率 1mA

誤差 2mA + 0.5%set

 

測溫電流源

(輔)

量程 0 ~ 100mA / 10V

分辨率 0.01mA

誤差 0~10mA 50μA + 0.5%set

誤差 10 ~ 100mA 0.5mA + 0.5%set

 

測量通道

數(shù)量 4

動(dòng)態(tài)電壓測量范圍 ±5V(差分模式)

動(dòng)態(tài)電壓測量誤差 1mV + 0.5%set

動(dòng)態(tài)電壓量程 100mV200mV400mV800mV

動(dòng)態(tài)電壓分辨率 1.6μV

采樣頻率 最高1MHz

采樣模式 連續(xù)變頻采樣

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)的“溫度系數(shù)標(biāo)定”


ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)的“瞬態(tài)熱測試”



四、數(shù)據(jù)處理與輸出

4.1“數(shù)據(jù)處理與輸出”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)


4.2“熱模型抽取”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)


4.3“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)



4.4“安全工作區(qū)”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)



 

聯(lián)系方式
公司名稱 陜西天士立實(shí)業(yè)集團(tuán)
聯(lián)系賣家 王偉 (QQ:3698086484)
電話 䀍䀑䀏-䀒䀒䀑䀑䀔䀔䀏䀋
手機(jī) 䀋䀐䀋䀒䀌䀍䀏䀐䀋䀒䀍
地址 陜西省西安市
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