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廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。

專業化的儀器和應用軟件發展迅速。各個廠家依據用戶的需要開發出多種軟件包，如分析多層膜分析軟件、地質樣品中的痕量元素測定軟件、氧化物分析軟件、油品中雜質分析軟件、高溫合金和有色金屬分析軟件等，這些軟件提供經過優化的分析方法，并配有適當的標準樣品。在絕大多數情況下可保證獲得準確的分析結果。

高壓發生器：

近年來, 譜儀的高壓發生器幾乎都采用高頻變換高壓發生器。發生器的高壓穩定性也較高, 一般說來, 當網路電壓波動不超過10% 時, 穩定性可達±0.0005%, 從而保證了X 射線管所發射X 射線強度的高穩定性。

測角儀：

測角儀是順序式 X 射線熒光光譜儀的核心部件, 也是同時式多道 X 射線熒光光譜儀中掃描的基本部件。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅動測角儀，取代傳統 θ/2θ 齒輪機械運動的測角儀， 2θ 掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001°提高到±0.0002°， 2θ掃描速度提高到80°/s 。

探測器和計數器：

在現代波長色散 X 射線熒光光譜儀中, 探測器和計數器的線性計數率由原來的105 s- 1擴展到106 s- 1, 甚至線性計數率可達4 106 s- 1 。正比計數器逐漸由原來的流氣式向封閉式過度。采用封閉式正比計數器后, 工作時既 無需配制工作氣體, 又防止了氣體質量的不一致 和流量變化對測量結果的影響,從而保證了測量 結果具有更好的再現性。

ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數）檢出限。結合了的Mapping分析包來檢測均質性和夾雜物，ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細樣品分析。可用多點分析幫助消除非均質材料的抽樣誤差。

EZ掃描允許用戶在沒有事先設定任何條件的情況下分析未知樣品。此節省時間的功能僅要求單擊幾次鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，可以提供準確、快速的XRF的結果。SQX可以自動修復包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕元素和超輕元素）、變化的氣體環境、雜質和不同的樣品尺寸，校正二次激發的效應。

產品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。